​三次元测头也被称为三维测头，是一种用于三坐标测量机（CMM）的关键部件。它主要用于接触式测量物体的几何形状、尺寸和位置精度等参数。通过测头与被测物体表面的接触，将接触点的空间位置信息转换为电信号，然后由三坐标测量机的数据处理系统进行计算和分析，从而得到被测物体的精确尺寸和形状数据。
测量精度要求
精度指标：不同的测量任务对精度的要求差异很大。例如，在航空航天零部件制造中，可能需要微米级甚至亚微米级的精度；而在一些普通机械零件加工的粗测环节，精度要求相对较低。在选择测头时，要关注其精度指标，如重复性精度、示值误差等。重复性精度体现了测头在相同条件下多次测量同一特征时的测量结果的离散程度，一般来说，高精度的测头重复性精度可以达到 ±0.5μm 以内；示值误差则反映了测头测量值与真实值之间的偏差，好的测头示值误差应控制在较小范围内。
精度稳定性：除了初始精度，精度的稳定性也很重要。测头在长时间使用或不同环境条件下，精度可能会发生变化。一些高质量的测头通过先进的材料和精密的制造工艺，能够在较长时间内保持精度稳定。例如，采用温度补偿技术的测头，可以减少环境温度变化对精度的影响，使测量结果更加可靠。
被测物体的特征
几何形状复杂程度：如果被测物体主要是简单的几何形状，如平面、圆柱等，触发式测头可能就足够满足测量需求。但对于复杂的自由曲面，如汽车发动机叶片、模具型腔等，扫描式测头能够更好地获取连续的表面数据，以精确描绘曲面的形状。扫描式测头可以沿着物体表面进行连续扫描，获取大量的点云数据，从而实现对复杂形状的高精度测量。
材料特性：被测物体的材料特性也会影响测头的选择。对于软质材料，如橡胶、塑料等，测量力过大可能会导致材料表面变形，影响测量结果。此时，需要选择测量力较小且能够精确控制测量力的测头。另外，对于一些表面粗糙的材料，光学式测头（非接触式）可能会因为光线反射的不确定性而产生较大误差，这种情况下，接触式测头可能更合适。
测量速度需求
生产效率考虑：在大规模生产环境中，测量速度直接影响生产效率。例如，在汽车零部件的生产线检测环节，需要快速完成大量零件的测量。触发式测头由于其离散式测量方式，测量速度相对较快，可以在短时间内获取多个测量点。而扫描式测头虽然能够获取更详细的表面信息，但测量速度较慢。如果对测量细节要求不是极高，为了提高效率，可以优先考虑触发式测头。
动态测量要求：在一些需要对运动物体进行测量或者实时监测的场合，如机器人手臂末端执行器的位置测量、高速运转的机械部件的在线检测等，对测头的动态测量速度和响应时间有较高要求。这时需要选择具有快速响应能力和高动态测量速度的测头，以确保能够准确捕捉到物体的瞬间状态。
兼容性与适配性
与三坐标测量机的兼容：测头需要与所使用的三坐标测量机（CMM）兼容。不同品牌和型号的 CMM 在接口、信号传输、运动控制等方面可能存在差异。确保所选测头能够与现有的 CMM 主机、控制系统和软件无缝对接，包括电气接口的匹配、通信协议的兼容等。例如，某些 CMM 只能识别特定格式的测头信号，需要选择符合这种信号格式的测头。
测头附件与更换方便性：考虑测头附件（如不同长度和形状的触针）的兼容性和更换的便捷性。在测量不同形状和尺寸的物体时，可能需要更换触针。方便的触针更换方式可以节省测量时间，提高工作效率。同时，测头的安装和拆卸也应尽量简单，便于维护和更换。
成本因素
采购成本：不同类型、不同品牌的三次元测头价格差异较大。触发式测头相对价格较低，扫描式测头价格较高，光学式测头（非接触式）价格因技术复杂程度也有所不同。在满足测量需求的前提下，需要根据预算考虑测头的采购成本。对于一些对精度要求不是极高、测量任务相对简单的小型企业或实验室，较低成本的触发式测头可能是一个经济实惠的选择。
使用和维护成本：除了采购成本，还要考虑测头的使用和维护成本。这包括测头的校准费用、易损件（如触针）的更换成本、维修成本等。一些高精度的测头需要定期使用专业的校准设备进行校准，校准费用较高；而一些质量较好的测头，其易损件的使用寿命较长，更换频率较低，能够降低长期使用成本。
环境适应性
温度和湿度范围：测量环境的温度和湿度变化可能会影响测头的性能。例如，在高温环境下，测头内部的电子元件可能会出现性能变化，导致测量误差。一些专为工业环境设计的测头能够在较宽的温度范围（如 - 10℃ - 50℃）和湿度范围（如 20% - 80% RH）内正常工作，而对于高精度的测量环境，可能需要配备专门的环境控制设备来确保测头性能的稳定。
抗振和抗干扰能力：在工业现场或车间环境中，可能存在振动和电磁干扰等因素。测头需要具备一定的抗振能力，以防止振动导致测量信号失真。同时，良好的抗电磁干扰能力可以保证测头在复杂的电磁环境下（如附近有大型电机、电焊机等设备）正常工作。一些高端测头通过采用特殊的屏蔽材料和电路设计，增强了抗振和抗干扰能力。