​非接触式三次元测量仪以影像、激光三角、结构光光学传感器采集三维坐标，不接触工件表面，适合薄壁、软质、易划伤、微小零件、复杂曲面；部分机型支持接触测头 + 非接触光学测头复合使用。具体如下：
无接触测量，不损伤工件
没有红宝石探针接触压力，不会挤压、划伤、压变形工件。
适合：薄壁件、硅胶、橡胶、薄膜、软质塑胶、微型精密零件、表面易刮伤镀层件，不会产生探针压痕。
可采集海量三维点云，擅长曲面评价
一次扫描获取大量点数据，可以和 CAD 模型做曲面比对、色差图、逆向建模，评价轮廓度、面型；接触式三坐标只能取离散点，曲面分析效率远不如光学机型。
可测微小、狭窄特征
不受探针直径限制，微小倒角、细缝隙、细小边缘，探针伸不进去的位置，光学可以采集。
测量效率高
白光结构光全场扫描，单次扫描一片区域；线激光连续扫曲面，复杂异形件比接触式打点速度快很多。
适合软质、易变形工件
接触测头会把薄件顶变形，造成测量失真；非接触不存在接触力带来的形变误差。
一机可复合配置
很多机型支持复合式：一套设备同时搭载光学非接触测头 + 接触式探针。孔、基准、盲孔用接触探针；曲面、薄壁件用光学，兼顾两者优点。