​非接触三次元测量仪（又称非接触式三坐标测量机）是一种通过光学、激光等非接触方式获取物体三维坐标数据的高精度测量设备，广泛应用于精密制造、电子、汽车、航空航天等领域。相比接触式三次元测量仪（通过探针接触工件），其性能优势主要体现在以下方面：
一、测量效率高，适合批量检测
快速扫描与数据采集
非接触测量依赖光学镜头、激光线或面阵传感器，可对工件进行高速扫描（如激光扫描速度可达每秒数十万点），无需逐点接触，大幅缩短单个工件的测量时间。
例如：检测手机外壳的复杂曲面，非接触式可在 10 秒内完成全尺寸扫描，而接触式需逐点采集，耗时可能超过 1 分钟。
批量自动化测量
搭配自动上下料系统和视觉定位，可实现无人化批量检测（如每小时检测数百个小型精密零件），适合生产线在线检测或大批量抽检场景，而接触式因探针磨损、定位耗时，难以实现高频次批量测量。
二、保护工件，避免损伤风险
无接触力，适合脆弱 / 精密工件
接触式测量时，探针与工件的接触力（通常 0.1-1N）可能导致易损工件变形或划伤（如薄型塑料件、玻璃镜片、镀膜零件、软质橡胶件等）。
非接触式通过光学信号采集数据，完全无物理接触，可安全测量：
表面光洁的精密零件（如半导体芯片、光学镜头），避免划伤；
柔性 / 脆性材料（如薄金属箔、陶瓷、泡沫制品），避免压溃或断裂；
易腐蚀 / 污染工件（如医药包装、食品模具），避免探针接触导致的二次污染。
三、适应复杂形状与细微特征测量
复杂曲面与异形结构的完整还原
对于具有自由曲面、深孔、凹槽、倒扣等复杂结构的工件（如汽车覆盖件、涡轮叶片、注塑模具型腔），非接触式可通过面扫描一次性获取全部三维数据，生成完整的点云模型，而接触式探针可能因空间限制无法触及某些区域（如深孔底部、狭小缝隙）。
细微特征的高精度捕捉
高端非接触测量仪（如白光干涉仪、共聚焦显微镜）的分辨率可达纳米级（0.1nm），能清晰测量微小特征：
电子元件的引脚间距（如 0.1mm 以下的 IC 引脚）；
表面粗糙度（Ra 值）、微划痕、镀层厚度；
微小孔径（如医疗导管的内径、喷油嘴小孔）。
四、环境适应性更强，减少外部干扰
抗振动与温度波动能力
接触式测量对环境振动敏感（探针接触时易受振动影响导致数据偏移），而非接触式光学系统对轻微振动的耐受性更强，在普通车间环境（非恒温恒湿）下仍能保持较高精度。
部分型号配备实时温度补偿算法，可自动修正环境温度变化对测量光路的影响，适合车间在线检测。
减少工件装夹限制
接触式测量需将工件牢固装夹（避免探针推动工件），而非接触式对装夹要求更低，可测量大型、重型或难以装夹的工件（如大型模具、汽车车身），甚至支持在线测量（工件在生产线上无需拆卸）。
五、数据处理与分析更高效
丰富的三维数据输出
非接触测量直接生成高密度点云数据（数百万至数亿个点），可通过专业软件（如 Geomagic、PolyWorks）进行三维建模、偏差分析、逆向工程等，快速与 CAD 模型比对，生成直观的彩色偏差云图。
多功能集成
部分非接触三次元测量仪集成光学影像测量（2D 尺寸）和激光扫描（3D 形状）功能，可同时完成工件的平面尺寸（如长宽、角度）和三维形貌测量，无需更换设备或工件装夹，提升检测流程效率。