​粗糙度测量仪（又称表面粗糙度仪、轮廓仪）是一种用于量化物体表面微观几何形状误差的高精度检测工具，其核心功能是通过物理接触或非接触方式获取表面轮廓信息，并计算国际标准定义的参数（如Ra、Rz等），以评估表面粗糙度对功能、性能及寿命的影响。下面，小编介绍一下使用粗糙度测量仪的测量原理：
接触式测量（主流方法）
触针法：仪器驱动金刚石触针（尖端半径通常为2μm、5μm或10μm）以恒定微力（几毫牛）垂直接触被测表面，沿表面匀速滑动时，微观峰谷起伏使触针产生垂直位移。位移通过杠杆或电感式传感器转换为电信号，经滤波处理后计算粗糙度参数。
优点：精度高（Ra测量范围0.001μm至10μm），直接对应国际标准参数，适用于大多数金属与非金属表面。
缺点：触针可能划伤软材料（如塑料、镀层），扫描速度较慢。
非接触式测量（特定场景补充）
光学干涉法：利用光波干涉条纹变形分析表面形貌，分辨率达亚纳米级，适用于超光滑表面（如光学元件）。
激光散射法：通过分析散射光角度分布评估粗糙度，速度快，但通常仅能提供单一综合参数（如Ra近似值）。
聚焦探测法：基于物镜聚焦特性，通过扫描焦点位置变化重建三维形貌，适用于陡峭侧壁测量。
优点：无损、速度快，适合软、脆、热敏感材料。
缺点：设备复杂昂贵，对表面光学特性敏感，测量陡峭边缘或深沟槽受限。